當(dāng)前位置：
使用單物鏡主動式相位掃描3D測量技術(shù)，觀察和測量使用同一個鏡頭即可，即:在發(fā)現(xiàn)缺陷后，可以直接拍照獲取測量用的圖片，注意探頭端部要盡量靠近待測表面，拍攝圖像能夠清晰顯示缺陷始末，然后根據(jù)缺陷類型選擇合適的測量方式。下面我們介紹本文的重要點(diǎn):通過點(diǎn)云圖確定放置光標(biāo)點(diǎn)的有效性。
缺陷測量不管選用哪種測量方式，需要在特征位置處放置光標(biāo)點(diǎn)，例如:測量裂紋長度，可以在裂紋兩端放置光標(biāo)點(diǎn)，測量面積則可以用若干光標(biāo)點(diǎn)圍住待測區(qū)域。擅用點(diǎn)云圖和點(diǎn)云色度深度圖，可以驗證、檢查所放置光標(biāo)點(diǎn)是否正確、得當(dāng)，是否因錯覺造成缺陷特征點(diǎn)誤判。
使用單物鏡主動式相位掃描3D測量技術(shù)，觀察和測量使用同一個鏡頭即可，即:在發(fā)現(xiàn)缺陷后，可以直接拍照獲取測量用的圖片，注意探頭端部要盡量靠近待測表面，拍攝圖像能夠清晰顯示缺陷始末，然后根據(jù)缺陷類型選擇合適的測量方式。
缺陷測量不管選用哪種測量方式，需要在特征位置處放置光標(biāo)點(diǎn)，例如:測量裂紋長度，可以在裂紋兩端放置光標(biāo)點(diǎn)，測量面積則可以用若干光標(biāo)點(diǎn)圍住待測區(qū)域。擅用點(diǎn)云圖和點(diǎn)云色度深度圖，可以驗證、檢查所放置光標(biāo)點(diǎn)是否正確、得當(dāng)，是否因錯覺造成缺陷特征點(diǎn)誤判。
綜上內(nèi)容就是工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載3D測量技術(shù)的優(yōu)勢，希望對大家有幫助。 以上文章來源于網(wǎng)絡(luò)：由鄭州九泰科技有限公司小編整理，內(nèi)容如有侵權(quán)請聯(lián)系刪除!
